维修案例

iPhone X不读卡(J_SIM_ E_8)

iPhone X不读卡(J_SIM_ E_8)
故障现象:
该IPhone X故障为不读卡。
故障分析:
此手机为无锁版本,基带正常,仅是不读卡,判断是SIM卡电路异常。
解决方案:
取出主板,测量SIM卡座接触点对地阻值,判断线路是否存在断线。检测后发现,线路阻值均正常,判断线路正常。接下来,测量电压。
当插入SIM卡时,测量SIM卡检测脚电压为“0.44V”,正常应为“1.8V",判断是检测脚电压异常导致。
根据原理图显示:
J_SIM_ E的 8#关联电路为: BB_SIM1_ DETECT_E,是基带CPU检测SIM插入的检测信号。
此线路由U_ MDM_E基带CPU的T19脚发出直接通往SIM卡内联座的8#,此线路上有上拉电路和保护
电路。R202 E是上拉电阻,一端接PP_ 1V8. LDO6_ E、-端接检测电路。 保护电路由DZ203. E保护
J SIM_E _8# BB_ SIM1_DETECT_ E二极管完成。
此电路电压没有1.8V电压,有三种原因: 1.保护电路故障; 2. 上拉电路故障; 3.基带CPU故障 。
本着以先易后难的原则进行判断,DZ203_ E二 极管是保护二极管,损坏可以直接拆除。
先拆除保护二极管,重新测量此路电压,万用表显示“1.8V",表示电路恢复正常。
装机测试,故障完美修复。



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