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iPhone X搬板不开机,电流50~200mA跳变(C1100)
浏览: 发布日期:2023-12-04
iPhone X搬板不开机,电流50~200mA跳变(C1100
故障现象:
该iPhone X故障根据同行描述为搬板后不开机,触发开机电流在50mA起跳到200mA后归零,反复跳变,拆下硬盘可以联机。
故障分析:
出现此情况,怀疑是CPU到硬盘的通讯线路可能存在问题。
解决方案:
首先先检查硬盘与CPU之间的通讯线路看是否存在断线。
在iPhone x上,CPU与硬盘之间的PCIE通讯线路上有耦合电容,单测硬盘底角很难判断此线路是否异常,所以先测量PCIE线路上耦合电容两边的阻值看是否正常。
在测量时发现电容C1100、C1101、C1102、 C1103两端阻值均不正常。
根据原理图纸显示:
电容C1100电路为: 90_ PCIE_ NAND _TO_ AP_ RXD_ P,是PCIE总线中硬盘到CPU的数据接收线路;
电容C1101电路为: 90_ PCIE_ NAND_ TO_ AP_ RXD_ N,是PCIE总 线中硬盘到CPU的数据接收线路;
电容C1102电路为: 90. _PCIE AP _TO_ NAND _TXD_ P,是PCIE总线中CPU到硬盘的数据发送线路;
电容C1103电路为: 90. PCIE AP _TO_ NAND _TXD_ N,是PCIE总线 中CPU到硬盘的数据发送线路。
这四颗电容两端阻值异常,怀疑是拆装CPU时造成的虚焊,重新焊接这四颗电容,重新测量这四颗电
容两端的阻值,万用表显示均为500左右,阻值正常。装机重新刷机测试,故障完美解决。


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