iPhone X不开机，电流在50~200mA跳动(C1102 A11)
iPhone X不开机，电流在50~200mA跳动(C1102 A11)故障现象:
客户有一台iPhone X是同行搬板机器，搬完上层板后测试主板不开机，检查开机电流，电流从50mA起跳，到200mA时归零，反复循环。
故障分析:
iPhone X开机触发时，电流从50mA起跳为正常电流，当电流达到200mA时，此时电流为手机从DFU模式切换到恢复模式电流，接下来CPU准备从硬盘提取开机资料。
此时，电流达到200mA左右重启，并且拆下硬盘可以联机，证明CPU已经正常工作。出现这种故障一般原因有两个: 1.硬盘异常; 2.CPU与 硬盘通讯异常。
解决方案:
在处理这种故障时，先不要急着更换硬盘,可以先尝试测量CPU与硬盘之间PCIE通讯线路上电容两端的对地阻值，来判断通讯线路是否正常。
在测量电容C1102通CPU一端阻值时，万用表显示“367”;
在测量电容C1102通硬盘一端阻值时， 万用表显示“OL”，故障找到。
根据原理图纸显示:
C1102是“90_ PCIE_ AP_TO_ NAND _TXD_ P"线路上的耦合电容，此电容异常会造成此电路开路，电
容损坏不可短接，只能更换同型号。
拆下此电容，测量靠近硬盘端焊盘引脚阻值为“430”，证明焊盘正常。重植电容C1102，重新测量阻值恢复正常。加电触发开机测试，故障完美修复。
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